集成电路的电磁兼容测试‘j九游真人’

当今，集成电路的电磁兼容性更加受到重视。电子设备和系统的生产商希望改良他们的产品以符合电磁兼容规范，减少电磁升空和强化抗干扰能力。过去，集成电路生产商关心的只是成本，应用领域和使用性能，完全很少考虑到电磁兼容的问题。

即使单片集成电路一般来说会产生较小的电磁辐射，但它还是常常沦为电子系统电磁辐射升空的根源。当大量的数字信号瞬间同时转换时之后不会产生许多的高频分量。　　特别是在是近年来，集成电路的频率更加低，构建的晶体管数目更加多，集成电路的电源电压越来越低，加工芯片的特征尺寸更进一步增大，更加多的功能，甚至是一个原始的系统都需要被构建到单个芯片之中，这些发展都使得芯片级电磁兼容变得最为引人注目。

现在，集成电路生产商也要考虑到自己产品电磁兼容方面的问题。　　集成电路电磁兼容的标准化　　由于集成电路的电磁兼容是一个比较较新的学科，尽管对于电子设备及子系统早已有了较详尽的电磁兼容标准，但对于集成电路来说其测试标准却比较迟缓。

国际电工委员会第47A技术分委会（IECSC47A）早在1990年就开始专心于集成电路的电磁兼容标准研究。此外，北美的汽车工程协会也开始制订自己的集成电路电磁兼容测试标准SAEJ1752，主要是升空测试的部分。

1997年，IECSC47A辖下的第九工作组WG9正式成立，专门负责管理集成电路电磁兼容测试方法的研究，参照了各国的建议，至今陆续出版发行了150kHz－1GHz的集成电路电磁升空测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132。此外，在脉冲抗扰度方面，WG9也正在制订对应的标准IEC62215。　　目前，IEC61967标准用作频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁升空测试，还包括以下六个部分：　　第一部分：标准化条件和定义（参照SAEJ1752.1）；　　第二部分：电磁辐射升空测量方法TEM小室法（参照SAEJ1752.3）；　　第三部分：电磁辐射升空测量方法表面扫瞄法（参照SAEJ1752.2）；　　第四部分：传导升空测量方法1/150必要耦合法；　　第五部分：传导升空测量方法法拉第笼法WFC（workbenchfaradaycage）；　　第六部分：传导升空测量方法磁场分析仪法。

　　IEC62132标准，用作频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试，还包括以下五部分：　　第一部分：标准化条件和定义；　　第二部分：电磁辐射抗扰度测量方法TEM小室法；　　第三部分：传导抗扰度测量方法大量电流流经法（BCI）；　　第四部分：传导抗扰度测量方法必要射频功率流经法（DPI）；　　第五部分：传导抗扰度测量方法法拉第笼法（WFC）。　　IEC62215标准，用作集成电路脉冲抗扰度测试，还包括以下三部分，但仍未月出版发行：　　第一部分：标准化条件和定义；　　第二部分：传导抗扰度测量方法实时脉冲流经法；　　第三部分：传导抗扰度测量方法随机脉冲流经法参照（IEC61000-4-2和IEC61000-4-4）。　　下文主要针对IEC61967和IEC62132的测试方法展开介绍。

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